טכנולוגיית איתור תקלות בשבבים שפותחה בישראל תאפשר ייצור מהיר והמוני של שבבים בגודל 22 ננומטר מערכת גיקטיים 15.09.2010 אין תגובות חברת אפלייד מטיריאלס הודיעה היום על השקת דור חדש של טכנולוגיית בקרת איכות למסכות ליתוגרפיה המאפשרת ייצור שבבים בגודל 22 ננומטר. המערכת החדשה, הנקראת Aera3, פותחה ומיוצרת בישראל.
