כך פיתחנו מיקרוסקופ-על שנעזר ב-AI כדי לגלות פגמים בשבבים כתב אורח 28.12.2021 תגובה אחת תהליך הייצור הלא מושלם גורם לכך שאין שני שבבים זהים, ואם נוסיף לכך את אלפי שלבי הייצור שמשפיעים עליהם – הרי שתהליך הבקרה הופך למאתגר מאוד. כך לקחנו את החוזקות של המיקרוסקופ האופטי והמיקרוסקופ האלקטרוני ויצרנו מערכת-על
